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測量機器

• 分光配光測量系統 GP series
  

  產品信息 特殊長度 支持長達 2400 毫米的 LED 照明燈具的光分布測量 還支持有機EL和大型顯示器的光分布測量 可以自動控制2軸測角儀測量每個角度的光譜分布，并通過球帶系數法獲得總...
• 液晶層間隙量測設備 RETS series
  

  產品信息 特 點 采用了偏光光學系和多通道分光檢出器 有可對應各種尺寸的裝置，從1mm大小的光學素子到第10代的大型基板 安全對策和粒子對策，可對應液晶line內的檢查設備 測量項目...
• OPTM series 嵌入型
  

  利用顯微微分光膜厚計OPTM series的高精度、微小光點，在線提供制作晶片圖案后的微小區域測量等膜厚信息。...
• 膜厚測量系統 FE-3700/5700
  

  產品信息 特殊長度 可以高速、高精度地測量各種玻璃基板上各種薄膜的膜厚和光學常數。 除了支持包括下一代尺寸在內的大型玻璃基板外，它還支持 LCD、TFT 和有機 EL。 用法 LCD ITO...
• 彩色濾光片、彩色光刻膠測量裝置 LCF SERIES
  

  產品信息 特點 以透過光譜測量、色測量為代表，通過濃度測量、膜厚測量、反射光譜測量等，可對應彩色濾光片制造工程中的所有檢查的裝置 可用于彩色濾光片的光學特性或玻璃基板...
• 用于透過率/吸光度測量的多通道光譜儀MCPD series
  

  是從紫外到近紅外領域對應的多功能多通道分光檢測器。最短5ms即可進行光譜測量。標準裝置的光纖可支持各種測量系統，而無需確定樣品種類。以顯微分光、光源發光、透射、反射測定為首，通過與軟件的組合，也可以對應物體顏色評價、膜厚測定等。...
• 高靈敏度光譜儀 HS-1000
  

  特點： 采用具有高亮度和色度精度的光譜方法（衍射光柵）， 0.005cd / m 2的超低亮度到400000cd / m 2的高亮度都可測量， 對應CIE推薦的寬波長范圍（355 nm至835 nm） 獨特的光學系統降低了...