| 展會名稱 | 大塚電子參與CIOE中國光博會 |
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| 展會時間 | 2024-09-11～2024-09-13 |
| 舉辦展館 | 深圳國際會展中心（寶安新展館） |
| 展會介紹 | ■尖端半導(dǎo)體及將來應(yīng)用AI、機(jī)器學(xué)習(xí)、5G/6G通信技術(shù)、量子計算、汽車（EV、自動駕駛）、VR/金屬泊位、宇宙、空移動性/無人機(jī)■半導(dǎo)體制造裝置半導(dǎo)體用設(shè)計裝置、掩模制造用裝置、晶片制造用裝置、晶片工藝用裝置、組裝用裝置、檢查用裝置、其他關(guān)聯(lián)裝置■半導(dǎo)體制造用零件、材料工藝材料、測試材料、組裝材料、基板、零件子系統(tǒng)■各種服務(wù)?軟件 |
| 展會名稱 | AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹 |
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| 展會時間 | 2025/1/23 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習(xí)會 |
| 展會介紹 | VR pancake模組的偏光片貼合角、相位差測量、LCoS液晶盒盒厚檢測Micro OLED薄膜厚度、彩色濾光片特性評估、和上述關(guān)聯(lián)的AR/VR/MR/XR終端研發(fā) |
| 展會名稱 | DLS測量手法及技巧介紹 |
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| 展會時間 | 2024/12/18 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習(xí)會 |
| 展會介紹 | 使用ELSZ系列、nanoSAQLA等測量設(shè)備或?qū)Υ擞信d趣的人。 |
| 展會名稱 | 平板狀·薄膜狀樣品的Zeta 電位測量與應(yīng)用的介紹 |
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| 展會時間 | 2024/11/27 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習(xí)會 |
| 展會介紹 | 大塚電子的 Zeta 電位測量系統(tǒng)“ELSZ 系列”不僅可以測量溶液中膠體粒子的 Zeta 電位，也可以測量平板狀、薄膜狀樣品的 Zeta 電位。通過這樣的測量可以評價平板狀樣品的表面改質(zhì)狀態(tài)以及液體中粒子的吸著特性。本次研討會將介紹其應(yīng)用。 |
| 展會名稱 | 納米粒度儀的基本操作&故障排除 |
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| 展會時間 | 2024/10/23 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習(xí)會 |
| 展會介紹 | 無法測試出預(yù)想的結(jié)果，測試數(shù)據(jù)波動這么大？是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)？運(yùn)用方法不對？ 還是測試條件設(shè)置有誤？如果您也有同樣的困惑，請記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會。 |
| 展會名稱 | AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹 |
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| 展會時間 | 2024年9月25日 15:00~16:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習(xí)會 |
| 展會介紹 | AR/VR/MR/XR行業(yè)測量方案介紹 |
| 展會名稱 | 顯微分光膜厚儀的晶圓圖案對位功能介紹 |
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| 展會時間 | 2024-08-28 15:00:00～2024-08-28 16:00:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習(xí)會 |
| 展會介紹 | 大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。 |
| 展會名稱 | 晶圓和研磨液靜電相互作用的評價方法和半導(dǎo)體制程技術(shù)介紹 |
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| 展會時間 | 2024-07-24 15:00:00～2024-07-24 16:00:00 |
| 舉辦展館 | 蘇州線上講習(xí)會 |
| 展會介紹 | 大塚電子利用光技術(shù)，開發(fā)出各種分析測量裝置，給客戶提供尖端測量技術(shù)支持。 |
